Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем / О.П.Глудкин;В.Н.Черняев.

By:

Contributor(s):

Material type: Text

TextLanguage: Russian Publication details: М.: "Энергия", 1980.Description: 360с.: илSubject(s):

Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.

Holdings
Item type	Current library	Call number	Copy number	Status	Date due	Barcode
წიგნები / Books	ცენტრალური ბიბლიოთეკა / Central library მთავარი საცავი / General store	621.396.6(02) / 27 (Browse shelf(Opens below))	840872	Available		2016-29909

Библиогр.: 355с.

There are no comments on this title.

to post a comment.

საქართველოს ტექნიკური უნივერსიტეტის ნიკო მუსხელიშვილის სახელობის საუნივერსიტეტო ბიბლიოთეკა