Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем / О.П.Глудкин;В.Н.Черняев.
Material type:
TextLanguage: Russian Publication details: М.: "Энергия", 1980.Description: 360с.: илSubject(s):
| Item type | Current library | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
წიგნები / Books
|
ცენტრალური ბიბლიოთეკა / Central library მთავარი საცავი / General store | 621.396.6(02) / 27 (Browse shelf(Opens below)) | 840870 | Available | 2016-30080 | ||
|
წიგნები / Books
|
ცენტრალური ბიბლიოთეკა / Central library მთავარი საცავი / General store | 621.396.6(02) / 27 (Browse shelf(Opens below)) | 840871 | Available | 2016-30082 | ||
|
წიგნები / Books
|
ცენტრალური ბიბლიოთეკა / Central library მთავარი საცავი / General store | 621.396.6(02) / 27 (Browse shelf(Opens below)) | 965139 | Available | 2016-30150 |
Библиогр.: 355с.
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.