Исследования качества и точности измерений параметров полупроводникопых диодов вып. 4 : [Под. общей ред. В. Коротхова. ]

Contributor(s):

Material type: Text

TextLanguage: Russian Publication details: Москва : 1969.Description: 165 Стр. Рис., таблSubject(s):

Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.

Holdings
Item type	Current library	Call number	Copy number	Status	Date due	Barcode
წიგნები / Books	ცენტრალური ბიბლიოთეკა / Central library მთავარი საცავი / General store	621.317.7 (082) / 2 (Browse shelf(Opens below))	717851	Available		2023-3887

Спис. лит. вконце статий.

There are no comments on this title.

to post a comment.

საქართველოს ტექნიკური უნივერსიტეტის ნიკო მუსხელიშვილის სახელობის საუნივერსიტეტო ბიბლიოთეკა