Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур / А.В. Раков .
Material type:
TextLanguage: Russian Publication details: Москва: советское радио, 1975.Description: 175 стр. иллSubject(s):
| Item type | Current library | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
წიგნები / Books
|
ცენტრალური ბიბლიოთეკა / Central library მთავარი საცავი / General store | 621.315.59/138 (Browse shelf(Opens below)) | 771767 | Available | 2025-4889 | ||
|
წიგნები / Books
|
ცენტრალური ბიბლიოთეკა / Central library მთავარი საცავი / General store | 621.315.59/138 (Browse shelf(Opens below)) | 771768 | Available | 2025-4887 |
лит-ра: стр. 167-173.
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.